为进一步满足科研人员需求，提升设备使用效率，中国科学院上海微系统与信息技术研究所公共技术中心于12月25日在上海微系统所长宁园区3号楼3楼会议室举办了显微成像技术及应用讲座。

此次讲座由蔡司的高级应用工程师李洪主讲，他在电镜领域拥有丰富的从业经验。本次应用讲座围绕激光共聚焦显微镜的半导体领域应用展开专题分享，紧扣用户实际应用需求，重点讲解了设备在高分辨成像、多模态观察、无损膜厚测量、高深宽比测量方面的应用案例，也展示了其针对半导体微纳样品实现的高分辨率荧光、光谱分析、原位测量、光电关联及自动化分析等新型应用。现场参会老师结合自研样品积极提问、深入交流。

本场讲座的实操环节在上海微系统所长宁园区8号楼2楼裙楼实验室，进行了激光共聚焦显微镜的实机演示及操作指导。上机培训环节反响热烈，蔡司工程师针对用户的膜厚类疑难样品、阵列微孔、光刻胶样品等测试痛点，现场给出针对性测试方法与参数优化建议，成功协助用户完成精准检测，获取了准确的测量数据。

此次所级中心联合蔡司开展专题讲座圆满结束。本场讲座通过理论讲解与典型样品上机测试，提升了参与人员的激光共聚焦显微镜设备操作技能，助力我所科研工作者更好的使用平台电镜仪器，进一步开展科研工作。