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一种利用稀磁半导体测量多量子阱耦合的方法

专利名称:	一种利用稀磁半导体测量多量子阱耦合的方法
专利名称英文:
专利类别:	发明
申请号:	200710045700.2
专利号:
申请日期:	2007-9-7
第一发明人:	郭旭光
第一发明人英文:
其他发明人:	曹俊诚
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:	2011-8-10
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:	授权
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期:

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