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用于微波功率放大器芯片的在片测试方法及其测试系统

专利名称:	用于微波功率放大器芯片的在片测试方法及其测试系统
专利名称英文:
专利类别:	发明
申请号:	200810032651.3
专利号:
申请日期:	2008-1-15
第一发明人:	张健
第一发明人英文:
其他发明人:	孙晓伟、李凌云、顾建忠、钱蓉
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:	2010-6-2
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:	授权
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期:

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