2025年1月13日 星期一
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用于微波功率放大器芯片的在片测试方法及其测试系统
专利名称: 用于微波功率放大器芯片的在片测试方法及其测试系统
专利类别: 发明
申请号: 200810032651.3
申请日期: 2008-1-15
第一发明人: 张健
其他发明人: 孙晓伟、李凌云、顾建忠、钱蓉
专利授权日期: 2010-6-2
其他备注: 授权