专利库----中国科学院上海微系统与信息技术研究所

专利库

用于原子力显微镜的二维微动平台和微力学参数测试方法

专利名称:	用于原子力显微镜的二维微动平台和微力学参数测试方法
专利名称英文:
专利类别:	发明
申请号:	200810041517.X
专利号:
申请日期:	2008-8-8
第一发明人:	鲍海飞
第一发明人英文:
其他发明人:	李昕欣、张波、郭久福
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:	2010-7-21
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:	授权
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期: