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一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统

专利名称:	一种采用双调制方案提高光荧光测试灵敏度的测试系统
专利名称英文:
专利类别:	发明
申请号:	201010262884X
专利号:
申请日期:	2010-8-26
第一发明人:	张永刚
第一发明人英文:
其他发明人:	顾溢
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:	2012-7-4
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:	授权
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期:

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