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用于采用超导量子干涉器件的传感器的调试系统及方法

专利名称:	用于采用超导量子干涉器件的传感器的调试系统及方法
专利名称英文:
专利类别:	发明
申请号:	2013103744979
专利号:
申请日期:	2013-8-23
第一发明人:	王永良
第一发明人英文:
其他发明人:	常凯; 荣亮亮; 孔祥燕; 徐小峰; 谢晓明
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:	受理
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期:

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