2025年6月14日 星期六
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用于采用超导量子干涉器件的传感器的调试系统及方法
专利名称: 用于采用超导量子干涉器件的传感器的调试系统及方法
专利类别: 发明
申请号: 2013103744979
申请日期: 2013-8-23
第一发明人: 王永良
其他发明人: 常凯; 荣亮亮; 孔祥燕; 徐小峰; 谢晓明
其他备注: 受理