2025年6月17日 星期二
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超导全张量磁梯度测控装置的同步精度的平行标定方法
专利名称: 超导全张量磁梯度测控装置的同步精度的平行标定方法
专利类别: 发明
申请号: 201410742699.9
申请日期: 2014-12-8
第一发明人: 伍俊
其他发明人: 荣亮亮、邱隆清、孔祥燕、谢晓明
其他备注: 受理