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同步精度平行标定方法使用的超导全张量磁梯度测控装置

专利名称:	同步精度平行标定方法使用的超导全张量磁梯度测控装置
专利名称英文:
专利类别:	实用新型
申请号:	201420769999.1
专利号:
申请日期:	2014-12-8
第一发明人:	伍俊
第一发明人英文:
其他发明人:	荣亮亮、邱隆清、孔祥燕、谢晓明
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:	授权
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期: