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一种基于介质薄膜反射镜的超导纳米线单光子探测器

专利名称:	一种基于介质薄膜反射镜的超导纳米线单光子探测器
专利名称英文:
专利类别:	发明
申请号:	2014103347184？
专利号:
申请日期:	2014-7-15
第一发明人:	李浩
第一发明人英文:
其他发明人:	尤立星; 王镇
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:	受理
其他备注英文:
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专利摘要:
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国外授权日期:

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