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一种用于相变存储单元电流测试的SET退火优化电路及方法

专利名称:	一种用于相变存储单元电流测试的SET退火优化电路及方法
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2017102561875？
专利号:
申请日期:	2017/4/19
第一发明人:	闫帅
第一发明人英文:
其他发明人:	蔡道林; 薛媛; 宋志棠; 陈一峰; 卢瑶瑶; 吴磊
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:
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专利证书号:
专利摘要:
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国外授权日期: