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一种用于原位电学测试的透射电镜样品的制备方法

专利名称:	一种用于原位电学测试的透射电镜样品的制备方法
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2017112135605？
专利号:
申请日期:	2017/11/28
第一发明人:	宋志棠
第一发明人英文:
其他发明人:	任堃; 沈佳斌; 郑勇辉; 成岩
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
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缴费情况:
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实施情况:
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