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提高超导纳米线单光子探测器计数率的方法及系统

专利名称:	提高超导纳米线单光子探测器计数率的方法及系统
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2018101076716？
专利号:
申请日期:	2018/2/2
第一发明人:	尤立星
第一发明人英文:
其他发明人:	吕超林; 张伟君; 李浩; 王镇
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
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实施情况:
实施情况英文:
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专利摘要:
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国外授权日期:

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