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一种锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法

专利名称:	一种锁相环电路单粒子敏感性的量化评估方法
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	201810146750.8
专利号:
申请日期:	2018/2/12
第一发明人:	陈卓俊
第一发明人英文:
其他发明人:	董业民、单毅
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
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专利授权日期:
缴费情况:
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实施情况:
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专利摘要:
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