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相变存储器阵列中的位线寄生参数的测量系统及方法

专利名称:	相变存储器阵列中的位线寄生参数的测量系统及方法
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2018103042644？
专利号:
申请日期:	2018/4/8
第一发明人:	卢瑶瑶
第一发明人英文:
其他发明人:	蔡道林; 陈一峰; 闫帅; 宋志棠; 吴磊; 刘源广; 李阳
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:
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专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期:

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