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磁传感器的低频本征噪声测试系统及测试方法

专利名称:	磁传感器的低频本征噪声测试系统及测试方法
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2018110411094
专利号:
申请日期:	2018/9/7
第一发明人:	邱隆清
第一发明人英文:
其他发明人:	董丙元；王永良；张国峰；
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
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实施情况:
实施情况英文:
其他备注:
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专利证书号:
专利摘要:
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国外授权日期:

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