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基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法

专利名称:	基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	201821735116.X
专利号:
申请日期:	2018/10/25
第一发明人:	付亚州
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其他发明人:	王长、谭智勇、曹俊诚
其他发明人英文:
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国外申请方式:
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缴费情况:
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实施情况:
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专利摘要:
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