专利库----中国科学院上海微系统与信息技术研究所

专利库

基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法

专利名称:	基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	201811251434.3
专利号:
申请日期:	2018/10/25
第一发明人:	付亚州
第一发明人英文:
其他发明人:	王长、谭智勇、曹俊诚
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期: