专利库----中国科学院上海微系统与信息技术研究所

专利库

一种全张量磁梯度测量组件标定系统及标定方法

专利名称:	一种全张量磁梯度测量组件标定系统及标定方法
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2019100617184
专利号:
申请日期:	2019/1/23
第一发明人:	伍俊
第一发明人英文:
其他发明人:	荣亮亮；宋正威；张国锋；张树林；邱隆清；裴易峰；张朝祥；尤立星；谢晓明；
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期: