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太赫兹光谱测量系统及分析物质的太赫兹光谱的方法；

专利名称:	太赫兹光谱测量系统及分析物质的太赫兹光谱的方法；
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	201910350476.0
专利号:
申请日期:	2019/4/28
第一发明人:	黎华
第一发明人英文:
其他发明人:	李子平，万文坚，曹俊诚
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
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实施情况:
实施情况英文:
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专利摘要:
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