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一种低温物性测试系统及装置

专利名称:	一种低温物性测试系统及装置
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2019109173530
专利号:
申请日期:	2019/9/26
第一发明人:	伍文涛
第一发明人英文:
其他发明人:	高波；王镇；
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
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专利授权日期:
缴费情况:
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实施情况:
实施情况英文:
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专利证书号:
专利摘要:
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国外授权日期:

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