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检测超导纳米线单光子探测器件对准结果的方法、装置

专利名称:	检测超导纳米线单光子探测器件对准结果的方法、装置
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2020109559825
专利号:
申请日期:	2020/9/12
第一发明人:	李浩
第一发明人英文:
其他发明人:	耿荣鑫；尤立星；王镇；谢晓明；
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
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专利授权日期:
缴费情况:
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实施情况:
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国外授权日期:

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