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一种高分辨率太赫兹近场光谱测试系统

专利名称:	一种高分辨率太赫兹近场光谱测试系统
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2020115608570
专利号:
申请日期:	2020/12/25
第一发明人:	黎华
第一发明人英文:
其他发明人:	王晨捷,李子平,张真真,曹俊诚
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
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实施情况:
实施情况英文:
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国外授权日期:

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