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一种低温测试装置

专利名称:	一种低温测试装置
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	202222895749.X
专利号:
申请日期:	2022/11/1
第一发明人:	汪书娜
第一发明人英文:
其他发明人:	原蒲升、余慧勤、李凌云、尤立星
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期:

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