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一种超导器件的常温检测方法及系统

专利名称:	一种超导器件的常温检测方法及系统
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2022113070562
专利号:
申请日期:	2022/10/25
第一发明人:	张国峰
第一发明人英文:
其他发明人:	王永良；邱隆清；荣亮亮；谢晓明；
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
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实施情况:
实施情况英文:
其他备注:
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专利摘要:
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国外授权日期:

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