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超导逻辑器件时序参数的测量电路及测量方法

专利名称:	超导逻辑器件时序参数的测量电路及测量方法
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2022104205081
专利号:
申请日期:	2022/4/20
第一发明人:	高小平
第一发明人英文:
其他发明人:	任洁；杨树澄；王镇；
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
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实施情况:
实施情况英文:
其他备注:
其他备注英文:
专利证书号:
专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期:

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