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低温测试系统

专利名称:	低温测试系统
专利名称英文:
专利类别:
申请号:	2021116701815
专利号:
申请日期:	2021/12/31
第一发明人:	余慧勤
第一发明人英文:
其他发明人:	李凌云；汪书娜；原蒲升；尤立星；
其他发明人英文:
国外申请日期:
国外申请方式:
国外申请方式英文:
专利授权日期:
缴费情况:
缴费情况英文:
实施情况:
实施情况英文:
其他备注:
其他备注英文:
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专利摘要:
专利摘要英文:
国外授权日期:

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