Z-stack（Z 轴层扫）是共聚焦显微镜的核心功能：沿样品 Z 轴，逐层采集一系列二维切片图像，再通过软件重构，还原样品三维立体结构，可用于 3D 可视化、体积定量、形貌分析。很多小伙伴扫完 Z-stack，重构出来要么分层撕裂、要么表面全是针状尖峰、立体感差。
2026-10-19
静电力显微镜是扫描探针显微镜（SPM）中基于原子力显微镜（AFM）的一种电学成像模式。它用导电探针感知样品表面的局域电荷、电势差、电容梯度或介电响应，从而在纳米尺度上研究材料的静电性质。
2026-10-08
填充因子是微透镜阵列的一个非常重要的参数，填充因子可以定义为透镜面积占基底总面积的百分比。填充因子的提高，能够大幅度提高微透镜阵列收集光的能力，还能有效改善成像信噪比，因而在许多应用领域，特别是传感器相关领域有着非常广泛的应用前景。
2026-09-28
为充分满足科研人员实际科研需求，提升大型仪器设备使用效能，推动 FIB 与 TEM 技术在多学科、多研究领域的深度落地应用，助力科研人才培养与学术交流，9 月 23 日中国科学院上海微系统与信息技术研究所公共技术中心在上海微系统所长宁园区组织开展 FIB 与 TEM 前...
2026-09-28
在文章《超声波扫描显微镜原理和应用》中我们介绍了超声波扫描显微镜进行无损检测的工作原理、系统构成和以及对材料与器件的内部分层、气孔、裂缝和夹杂等缺陷检测，是材料和器件无损分析利器，并被广泛应用于检测分析中。
2026-09-20
氮化钽 TaN 薄膜凭借熔点高、电阻率可调、热稳定性好、化学惰性强，是半导体 Cu 互连扩散阻挡层、片上精密薄膜电阻、防护涂层的核心材料。但 Ta-N 体系物相复杂，氮气流量直接改变 N/Ta 原子比，驱动薄膜发生多阶段物相转变，对薄膜晶体结构、微观形貌、导电性能起...
2026-09-07
