1月18日，上海微系统所召开了863目标导向项目“C-RAM芯片关键技术研究”验收会。该项目由上海微系统所研究员宋志棠、刘波主持承担。

国家科技部高技术研究中心材料处长卞曙光、综合计划副处长雷瑾亮、材料处办公室张芳以及中科院半导体所副所长陈弘达、中科院上海硅酸盐所副所长陈立东、复旦大学张卫教授作为评审专家出席了会议。上海微系统所常务副所长王曦、科技处长胡善荣、重大办主任程莉莉以及项目组成员共计20余人参加了此次会议。会议由验收专家组长陈弘达主持。

会上，项目负责人刘波做了项目工作总结报告，专家组认真审查了相关技术文件和资料，并现场测试课题组所研制的16Kb及1Mb测试芯片，各项技术指标均全面满足合书同要求。在CRAM芯片研制关键设计、单项工艺、工艺集成、封装、测试等技术方面出色完成了预定的研究目标。专家组给予了“十一五”863同类项目验收最高评价。一致同意通过该项目的验收。