6月3日，国家重大科学研究计划项目“纳米测量技术标准的基础研究”夏季研讨会在中科院微系统所召开，来自国家纳米中心、中国计量科学研究院、中国科技大学、北京出入境检验检疫局、中科院微系统所5个承担单位的项目骨干20余人参与此次会议。

项目研讨会由项目首席科学家、国家纳米科学中心主任王琛研究员主持。到会专家还包括中科院上海微系统所所长王曦院士、中科院物理所、全国纳米技术标准化技术委员会副主任沈电洪研究员和国家纳米中心科技管理部副主任王孝平研究员。

国家重大科学研究计划项目“纳米测量技术标准的基础研究” （2011CB932800）于2011年1月在北京正式启动，划分为4大子项目，中科院微系统所PCRAM项目组参与承担课题四：“纳米制造过程中的性能测量准则和标准制定基础”。

会上，王曦对此次研讨会的召开表示祝贺，对项目的重要意义给予充分肯定，他认为纳米标准是促进纳米产业健康发展必不可少的工作，该项目的立项能够进一步促进我国纳米标准化进程，切实推动我国纳米产业的发展。希望并相信PCRAM项目组与其他各个主持与承担单位几方互动，在前期几个国家重大项目优秀成果的基础上，再接再厉，高效完成该项目各节点工作。

丁泽军教授、吴晓春研究员、葛广璐研究员、陈小刚副研究员几位课题负责人分别就各子课题目前进度进行了总结汇报，提出了开展过程中碰到的各个难点，与会学术骨干围绕研究内容和方案进行了热烈探论。陈小刚副研究员针对课题四的研究进展状况做了汇报，他表明，该课题目前严格按照任务书要求步步推进，去年新起草单元测试标准1项、采标1项，均已在年初提出立项申请，今年工作重点是通过对存储阵列的关键参数汲取与统计分析，建立阵列的测试标准。

中科院微系统所PCRAM项目组负责人宋志棠研究员深入浅出地分析了相变存储器的产学研运行态势，明确指出纳米测量技术标准研究是相变存储器行业发展的推动力量。 他指出，本课题组的目标是结合用户需求，在纳米测量的基础研究之上建立一套相变存储器标准化测量体系，切实将标准化流程落到实处，促进相变存储器的产业化进程。

最后，项目首席科学家、国家纳米科学中心王琛研究员作总结发言，围绕本项目的立项依据、课题设置、研究目标与内容，对各子课题目前的总体进程表示肯定，并对该项目的最终成果提出殷切希望。他认为，该项目的总体目标在于工艺化，基础研究应力求与实践相结合，为检验检疫、产业化提供参考，希望各课题承担单位脚踏实地，互帮互助，在坚实的基础研究之上, 制定高水平的国际标准，提升国际话语权。