3月18日，我所举行了“纳米半导体存储技术联合实验室”（以下简称“联合实验室”）的揭牌仪式。该联合研究室是由我所与中芯国际集成电路制造（上海）有限公司（以下简称“中芯国际”）联合成立的。中芯国际的CTO季明华、VP谢志峰、处长黄河和杨左娅博士、中科院上海光机所的甘福禧院士、北京工业大学常务副校长张泽院士、南京大学刘治国教授和陈坤基教授、复旦大学微电子学院副院长林茵殷教授、上海交通大学冯洁副教授以及中科院上海微系统所所长封松林、科技质量处处长赵建龙、人才教育处处长俞跃辉、纳米技术研究室主任宋志棠等代表参加了会议。

　　会议由科技质量处处长赵建龙主持。宋志棠主任首先介绍了联合实验室成立的过程，中芯国际和上海微系统所于2004年开始在半导体存储技术方面进行合作，并于2006 年8月24日签署了合作研究协议，随着合作的进一步深入， 2007年1月8日签署了共建联合实验室的协议，该联合实验室主要从事纳米半导体存储技术的研究。中芯国际CTO季明华博士与微系统所所长封松林博士在热烈的掌声中为 “纳米半导体存储技术联合实验室”揭牌。

　　中芯国际的季明华博士表示：他们将在设备、财力和人力等方面全力支持联合实验室，并对未来的深入合作充满了希望。对此，封松林所长表示该实验室是强强联合，产、学、研结合的一种具体实践，有利于推进新技术的研究和应用。双方一致认为，该联合实验室的成立对于推动纳米半导体存储技术这一领域的研究，有着不可估量的战略意义。

　　揭牌仪式结束后，各参会代表就PCRAM存储技术的研究进行了深入的战略研讨。